TRUNG TÂM HẠT NHÂN TP.HCM

TÀI LIỆU HUẤN LUYỆN UT CẤP II

CHƯƠNG 8
GHI NHẬN VÀ ĐÁNH GIÁ KẾT QUẢ KIỂM TRA SIÊU ÂM
8.1. TẦM QUAN TRỌNG VÀ SỰ CẦN THIẾT TRONG VIỆC PHÁT HIỆN KHUYẾT TẬT
VÀ ĐÁNH GIÁ CHÍNH XÁC KẾT QUẢ :

Trong thực tế, các khuyết tật cố hữu luôn tồn tại trong vật liệu do sự không hoàn chỉnh và
lệch mạng, tuy nhiên chúng có kích thước rất nhỏ. Ngoài ra các khuyết tật khác còn phát sinh
trong quá trình gia công như hàn, đúc, rèn và các quá trình xử lý bề mặt.v.v…(Phần 1.3). Các
vật liệu phải làm việc dưới những điều kiện khác nhau như chịu ứng suất, quá trình mỏi, rỉ
mòn.v.v…Bởi vì trong các điều kiện này nhiều khuyết tật mới phát sinh hoặc chúng đã tồn
tại từ trước có thể gây nghiêm trọng thêm. Hầu hết các hư hỏng trong vật liệu xảy ra khi
những khuyết tật này đạt đến kích thước nguy hiểm, do vậy những phần còn lại của vật liệu
không chịu được ứng suất đang tác dụng lên vật liệu, gây nên các vết đứt gãy theo dạng dẻo
và giòn
Do đó việc đầu tiên cần phải phát hiện các khuyết tật này và sau đó giải đoán nhằm xác định
bản chất, kích thước và vị trí của chúng. Bước tiếp theo phải đánh giá xem trạng thái hiện tại
của nó nguy hiểm và trầm trọng đến mức nào? và có cần thiết phải loại bỏ bằng cách sửa
chữa các bộ phận được kiểm tra? hay các bộ phận này phải bị loại bỏ hoặc sản phẩm có các
khuyết tật đã biết, vẫn được phép đưa vào hoạt động? Quá trình đánh giá và quyết định này
được gọi là “sự đánh giá”. Do đó trong thực tế khái niệm kiểm tra không phá hủy (NDT) sẽ
được thay thế bằng khái niệm : đánh giá không phá huỷ ( non – destructive evaluation
-NDE).
Quá trình đánh giá thực ra có hai nghĩa. Đầu tiên, phải đảm bảo chắc chắn rằng không có bộ
phận chi tiết nào có các khuyết tật ở mức không cho phép có thể không cần kiểm tra mà vẫn
đưa vào hoạt động có thể dẫn đến các sai hỏng nghiêm trọng, vì điều này như đã nói trước
đây ở nhiều mục. Thứ hai là tầm quan trọng như nhau đối với các chi tiết được biết là có
khuyết tật nhưng không được xem là nguy hiểm cho những hoạt động bình thường, mà nó

được đưa vào hoạt động, và điều này làm cho sự hao phí về vật liệu và sản phẩm là rất lớn.
Dựa theo hai yêu cầu cơ bản trên, việc đầu tiên là phải phát hiện ra các khuyết tật một cách
tin cậy và chính xác về: bản chất, kích thước và vị trí của chúng, việc thứ hai là thực hiện giải
đoán và đánh giá. Yêu cầu thứ nhất được thỏa mãn bằng cách sử dụng các phương pháp NDT
thích hợp nhằm phát hiện và xác định bản chất, kích thước, và vị trí của khuyết tật, trong khi
đó yêu cầu thứ hai về đánh giá thì phải phù hợp với mục đích sử dụng nhờ sự trợ giúp của
những tiêu chuẩn đánh giá. Việc đánh giá cũng được thực hiện bằng cách giải gần đúng bài
toán cơ phá hủy, mà ở đó kích thước khuyết tật vết nứt được nghiên cứu dưới những điều
kiện chịu tải khác nhau và các biểu hiện đáp ứng của nó đã được dự đoán trước bằng tính
toán.
8.2. KHẢ NĂNG GHI NHẬN NHỮNG KHUYẾT TẬT :

Chúng ta có thể bắt đầu với việc giải thích khái niệm về độ nhạy phát hiện khuyết tật trong
NDT. Đây chỉ đơn giản là khả năng hoặc năng lực của một kỹ thuật NDT nhằm phát hiện các
khuyết tật. Nếu một kỹ thuật đặc thù nào đó có thể phát hiện được những khuyết tật nhỏ thì
nói rằng chúng có độ nhạy tốt hoặc cao, ngược lại nếu nó chỉ có thể phát hiện được những
khuyết tật lớn thì nói rằng chúng có độ nhạy kém hoặc thấp.

PHÒNG THÍ NGHIỆM NDT

CHƯƠNG 8

255


TRUNG TÂM HẠT NHÂN TP.HCM

TÀI LIỆU HUẤN LUYỆN UT CẤP II

Việc lựa chọn độ nhạy phát hiện khuyết tật tương thích với những yêu cầu kiểm tra có một

tầm quan trọng lớn. Điều này có nghĩa là, ví dụ như nếu cần phải phát hiện những khuyết tật
có kích thước 1mm nằm bên trong các sản phẩm được chế tạo đặc biệt thì kỹ thuật kiểm tra
siêu âm phải được thực hiện theo yêu cầu như vậy để nó có thể phát hiện được kích thước
của các khuyết tật này dưới điều kiện bình thường và cho những kết quả tin cậy. Nhân viên
kiểm tra phải biết tình trạng vật thể kiểm tra, lịch sử chế tạo và vật liệu của nó. Sự kết hợp
giữa kiến thức này với sự thông thạo kỹ thuật kiểm tra có thể giúp cho việc giải đoán chính
xác các chỉ thị kiểm tra.
Độ nhạy của quá trình phát hiện khuyết tật bằng phương pháp siêu âm phụ thuộc vào loại chi
tiết kiểm tra, hình dạng, các kích thước hình học; cấu trúc hạt, và điều kiện bề mặt, bản chất,
chủng loại, hướng và vị trí của khuyết tật; các đặc trưng của đầu dò như tần số, vùng chết,
trường gần và sự mở rộng của chùm tia; độ nhớt và âm trở của chất tiếp âm; các đặc trưng
của thiết bị như : dải quét kiểm tra, độ phân giải và hình dạng xung; các mẫu chuẩn và quy
trình kiểm tra; quá trình quét kiểm tra và đánh giá; thẩm định năng lực của nhân viên kiểm
tra, kỹ năng và kinh nghiệm của họ.
Một máy dò khuyết tật siêu âm phải được đặt ở mức độ nhạy nhỏ nhất vì đây là chỉ có ý
nghĩa mà đó những xung phản hồi của khuyết tật đáng kể nào đó có thể được chuyển thành
những thông tin có ý nghĩa hơn. Về mặt nguyên lý, việc chọn lựa độ nhạy được dựa vào khả
năng phản xạ của những khuyết tật nhỏ nhất mà có thể phát hiện được trong giới hạn thang
đo cực đại.
Có hai mức nhạy được sử dụng trong suốt quá trình kiểm tra : Độ nhạy đánh giá và độ nhạy
quét. Độ nhạy đánh giá (độ nhạy chuẩn) được cài đặt trong thiết bị có thể tạo ra những biên
độ tín hiệu từ các bề mặt phản xạ nhân tạo chuẩn nhằm để so sánh với những xung phản hồi
của bất liên tục. Độ nhạy đánh giá cũng còn được gọi là Mức Xung phản hồi Chuẩn Ban Đầu
(PRE). Độ nhạy quét được dùng trong suốt quá trình quét sơ bộ ban đầu trên mẫu kiểm tra
nhằm để xác định vị trí của tất cả các xung phản hồi bất liên tục mà sau đó sẽ được đánh giá
tại độ nhạy đánh giá. Để thiết lập độ nhạy quét, người ta tăng độ nhạy của thiết bị từ giá trị
độ nhạy đánh giá lên một lượng riêng biệt nào đó, chẳng hạn như 6 dB. Các phương pháp
thiết lập thông thường để thiết lập độ nhạy đánh giá được trình bày trong chương 5.
Khi một khuyết tật được phát hiện trong quá trình quét chi tiết kiểm tra, thì bước tiếp theo là
phải ghi nhận lại hoặc không cần ghi nhận. Điều này có nghĩa là khuyết tật phải được khảo

sát kỹ lưỡng hơn về vị trí, kích thước và bản chất của chúng hoặc là bỏ qua chúng không cần
phải khảo sát thêm. Để đạt mục đích này, trong mỗi quy trình chuẩn kiểm tra siêu âm phải
chỉ rõ một mức ghi nhận đánh giá nào đó. Những mức ghi nhận đánh giá trong hầu hết các
tiêu chuẩn như quy phạm ASME, API – 1104 là 20% đường cong DAC hoặc mức chuẩn ban
đầu (PRE).
Trong tiêu chuẩn của Hội hàn Hoa Kỳ - AWS D1.1 (1988), thì khả năng ghi nhận khuyết tật
phụ thuộc vào bề dày và góc của đầu dò. Trong phương pháp biểu đồ DGS bất kỳ khuyết tật
nào cho một xung phản hồi bằng hoặc lớn hơn đường cong ghi nhận, đều được ghi nhận lại.
8.3. NHỮNG SỐ LIỆU ĐƯỢC GHI NHẬN :

Theo tất cả các tiêu chuẩn về siêu âm như : ASME Section V (điều 5), AWS D1.1 và API –
1104 được sử dụng trong quá trình sản xuất. Khi một khuyết tật được phát hiện và có thể ghi
nhận, thì các đặc trưng sau đây của khuyết tật nên được xác định : (i) Bản chất của khuyết
tật, (ii) Chiều dài của khuyết tật và (iii) Khả năng phản xạ theo giá trị (dB) nằm trên hoặc

PHÒNG THÍ NGHIỆM NDT

CHƯƠNG 8

256


TRUNG TÂM HẠT NHÂN TP.HCM

TÀI LIỆU HUẤN LUYỆN UT CẤP II

dưới đường cong DAC hoặc mức chuẩn ban đầu. Những đặc tính này cần thiết để đánh giá
cho phép hoặc loại bỏ một khuyết tật.

Mặt phản xạ được dịch chuyển qua chùm tia


Hình 8.1 – Ghi nhận bề mặt phản xạ.
Những tiêu chuẩn về siêu âm được sử dụng trong các quá trình kiểm tra trước khi sử dụng
(PSI) và kiểm tra trong khi đang hoạt động (ISI), yêu cầu phải có những dữ liệu bao quát hơn
về khuyết tật. Những đặc tính của khuyết tật nên được ghi nhận theo ASME Section V (điều
4) là : (i) Bản chất, (ii) Độ sâu, (iii) Chiều cao hoặc bề dày xuyên thấu và (v) là chiều dài của
khuyết tật.
Trong bảng 8.1 mô tả một số liệu về một mặt phản xạ được ghi nhân ở mức 120%DAC như
thế nào, theo điều 4 của ASME Section V.
Bảng 8.1. Ghi nhận những số liệu của một khuyết tật, theo điều 4, ASME SectionV.
(a)
Giá trị
cực đại
%DAC

(b)
Số
đọc
dải đo
4,0
4,0
4,0

(c)
Vị trí
đầu
dò
(in.)
4,6
4,6

4,6

120
80
20
90
70
20

(d)
Vị trí
(in.)
23
22,1
21,7

4,1
4,1
4,2

4,7
4,7
4,6

23,9
24,8
25

(e)


(f)

Nhỏ nhất
Số đọc Vị
dải đo
trí
3,6
4,2
3,8
4,3
……
…
…
3,7
4,3
3,9
4,.4
…..
…
….

(g)

(h)

Lớn nhất
Số đọc Vị
dải đo
trí
4,4

5,2
4,2
4,8
……
…
…
4,3
5,2
4,3
5,2
…….
…
….

(i)

(j)
% của t
Khoảng
Độ
cách từ
sâu
bề mặt
10
45
5
47,5
0
50


(4,4 – 3,6)/8,0
(4,2 – 3,8)/8,0
……………..

7,5
5
0

(4,3 – 3,7)/8,0
(4,3 – 3,9)/8,0
………………

46
46
50

Tính toán hoặc ghi
chú

Độ sâu 10%t
Chiều dài 3,3 inch

8.4. CÁC ĐẶC TRƯNG CỦA KHUYẾT TẬT :

8.4.1. Xác định vị trí khuyết tật:
Vị trí của khuyết tật có thể xác định trực tiếp trên màn hình của máy dò khuyết tật đã được
chuẩn định phù hợp. Trong trường hợp đầu dò thẳng (normal probe), vị trí khuyết tật bên
dưới bề mặt được đọc trực tiếp trên màn hình như mô tả trong hình 8.2. Nhưng đối với
PHÒNG THÍ NGHIỆM NDT


CHƯƠNG 8

257


TRUNG TÂM HẠT NHÂN TP.HCM

TÀI LIỆU HUẤN LUYỆN UT CẤP II

trường hợp sử dụng đầu dò góc vị trí của khuyết tật bên dưới bề mặt phải được tính toán từ
quãng đường truyền chùm tia siêu âm và góc đầu dò.
Đầu dò

Xung phản hồi khuyết tật

Khuyết tật

Hình 8.2 – Xác định vị trí khuyết tật bằng đầu dò thẳng.
Ví dụ ở hình 8.3; ta có d/R = cosθ; trong đó: d là độ sâu của khuyết tật nằm dưới bề mặt, θ là
góc của đầu dò, R là quảng đường truyền âm từ đầu dò đến khuyết tật, R còn được gọi là
“khoảng truyền”, được đọc trực tiếp trên màn hình đã được chuẩn định bằng cách xác định
vị trí của xung phản hồi khuyết tật. Vị trí của khuyết tật bên dưới bề mặt sẽ được xác định
thông qua giá trị “d”. Trong kỹ thuật kiểm tra siêu âm mối hàn, người ta thường sử dụng một
“thước toạ độ khuyết tật” để xác định vị trí khuyết tật. Ngoài ra, vị trí này còn được xác định
bằng một sơ đồ chính xác hay bằng tính toán. Cũng cần phải xác định vị trí khuyết tật dọc
theo bề mặt của vật kiểm tra đối với điểm gốc.

θ
d


R
θ

Khuyết tật

Hình 8.3 – Xác định vị trí khuyết tật cùng với độ sâu khuyết tật.bằng đầu dò góc.
8.4.2. Các phương pháp xác định kích thước khuyết tật:
Để xác định kích thước của khuyết tật người ta thường sử dụng biên độ xung phản hồi. Có ba
phương pháp phổ biến được sử dụng để đánh giá biên độ xung phản hồi , đó là phương pháp
mẫu so sánh, phương pháp biểu đồ DGS và phương pháp quét. Hai phương pháp đầu tiên
được dùng để đánh giá biên độ xung phản hồi tạo ra từ những khuyết tật có kích thước nhỏ
hơn kích thước của chùm tia siêu âm. Phương pháp thứ ba được sử dụng để đánh giá biên độ
xung phản hồi của những khuyết tật có kích thước lớn hơn kích thước của chùm tia siêu âm.
Trong phương pháp mẫu so sánh, chiều cao biên độ xung phản hồi bằng dB, đối với đường
cong DAC (Xây dựng đường cong bổ chính DAC - xem chương 5), được xác định và ghi
PHÒNG THÍ NGHIỆM NDT

CHƯƠNG 8

258


TRUNG TÂM HẠT NHÂN TP.HCM

TÀI LIỆU HUẤN LUYỆN UT CẤP II

nhận. Điều này được thực hiện bằng cách thay đổi giá trị núm khuếch đại sao cho chiều cao
xung phản hồi đạt đến mức DAC, sau đó ghi lại giá trị mới của núm khuyếch đại. Sự khác
nhau giữa giá trị khuyếch đại mới và mức độ nhạy ban đầu PRE (cộng với sự mất mát trong
quá trình lan truyền chùm tia siêu âm và quá trình hiệu chỉnh độ suy giảm, nếu có), chính là

chiều cao biên độ xung phản hồi tính bằng dB, đối với đường cong DAC. Sự khác nhau này
phải được ghi lại trong biên bản báo cáo kết quả kiểm tra siêu âm.
Trong phương pháp biểu đồ DGS, chiều cao biên độ xung phản hồi tính bằng dB, đối với
đường cong ghi nhận (Xây dựng đường cong ghi nhận xem chương V), cũng được xác định
tương tự bằng cách đặt chiều cao biên độ xung phản hồi tới bằng mức đường cong ghi nhận
bằng cách dùng núm điều chỉnh (hệ số ) khuếch đại, ghi lại giá trị khuếch đại mới đang đặt
và xác định sự khác nhau giữa nó với G rec. Sự khác nhau này cho ta chiều cao biên độ xung
phản hồi (bằng dB) đối với đường cong ghi nhận và nên đưa vào biên bản báo cáo kiểm tra
siêu âm.
Khi kích thước của khuyết tật lớn hơn kích thước của chùm tia siêu âm thì luôn luôn sử dụng
bất kỳ các phương pháp xác định kích thước khuyết tật nào được cho sau đây :
8.4.2.1. Phương pháp giảm 6dB:
Điều cơ bản trong phương pháp này là chiều cao của xung hiển thị khuyết tật, khi đầu dò
được đặt tại vị trí có đáp ứng khuyết tật cực đại, sẽ bị giảm đi một nửa (giảm 6dB-mang tên
của phương pháp), khi đường trục của chùm tia sóng âm đi từ vị trí giữa khuyết tật ra ngoài
mép khuyết tật như minh họa trong hình 8.4. Phương pháp giảm 6dB rất thích hợp để tìm
kích thước của các khuyết tật có kích thước tương đương hay lớn hơn chiều rộng của chùm
tia siêu âm, phương pháp này sẽ cho các kết quả không chính xác lắm khi kích thước các
khuyết tật nhỏ hơn chiều rộng của chùm tia siêu âm. Nên phương pháp này thường được sử
dụng để xác định chiều dài của các khuyết tật và không được sử dụng trong việc xác định
chiều cao của các khuyết tật.
Đầu dò

Hình 8.4 – Phương pháp giảm 6dB.
Trình tự để xác định kích thước của một khuyết tật theo phương song song với phương dịch
chuyển của đầu dò, nghĩa là xác định chiều dài của khuyết tật là như sau :
(i)

Tìm vị trí đặt đầu dò sao cho nhận được xung phản hồi của khuyết tật có chiều cao
cực đại.


(ii)

Điều chỉnh chiều cao biên độ xung phản hồi đến một vạch thích hợp nào đó trên
màn hình bằng núm điểu chỉnh hệ số khuếch đại của máy dò khuyết tật.

PHÒNG THÍ NGHIỆM NDT

CHƯƠNG 8

259


TRUNG TÂM HẠT NHÂN TP.HCM

(iii)

(iv)
(v)

(vi)

TÀI LIỆU HUẤN LUYỆN UT CẤP II

Dịch chuyển đầu dò theo một hướng ngang qua khuyết tật cho đến khi chiều cao
biên độ xung phản hồi giảm đi một nửa so với chiều cao xung phản hồi ban đầu đã điều
chỉnh ở mục (ii).
Đánh dấu vị trí trung tâm của đầu dò trên mẫu kiểm tra tại vị trí này.
Dịch chuyển đầu dò theo hướng ngược lại, đi qua vị trí vừa cho xung phản hồi cực
đại và lại đến vị trí khác nhận được xung phản hồi có chiều cao bằng một nửa xung

phản hồi đã điều chỉnh ở mục (ii).
Đánh dấu vị trí tại tâm đầu dò trên mẫu kiểm tra.

(vii)

Khoảng cách giữa hai điểm đánh dấu là chiều dài của khuyết tật theo phương song
song với phương dịch chuyển đầu dò.
Nếu khả năng phản hồi sóng âm từ khuyết tật bị thay đổi một cách đáng kể trong quá trình
khảo sát thì phải di chuyển đầu dò sao cho đến khi nhận được xung phản hồi khuyết tật có ý
nghĩa cuối cùng còn quan sát được ngay trước một xung phản hồi tiếp theo sẽ bị sút giảm rất
nhanh. Khi di chuyển đầu dò qua vị trí khác thì đỉnh xung phản hồi khuyết tật có ý nghĩa này
sẽ có chiều cao bằng 100% màn hình và sau đó di chuyển đầu dò như đã hướng dẫn ở mục
(iii). Để tìm đầu kia của khuyết tật, cũng tiến hành cùng phương thức tương tự như vậy.
Phương pháp giảm 6dB này rất thích hợp để tìm kích thước các khuyết tật có kích cỡ tương
đương hay lớn hơn chiều rộng chùm sóng âm, nhưng sẽ cho kết quả không chính xác khi
kích thước của khuyết tật nhỏ hơn chiều rộng chùm sóng âm. Do đó, nó thường dùng xác
định chiều dài của khuyết tật, chứ ít khi dùng xác định chiều cao của khuyết tật.
8.4.2.2.Phương pháp giảm 20dB:
Phương pháp này rất hữu hiệu để xác định kích thước khuyết tật với nguyên tắc : cạnh của
chùm sóng âm sẽ có cường độ âm giảm còn 10% (tương đương giảm 20dB) so với cường độ
tại trục trung tâm của chùm sóng âm (hình 8.5).
Đầu dò

Hình 8.5 – Phương pháp giảm 20dB.
Quy trình chi tiết để xác định kích thước khuyết tật bằng phương pháp giảm 20dB như sau:
(i)
Đặt đầu dò ở vị trí nhận được xung phản hồi của khuyết tật lớn nhất.
(ii)

Điều chỉnh chiều cao biên độ xung phản hồi khuyết tật vào một vạch chuẩn nào đó

trên màn hình CRT của máy dò khuyết tật siêu âm bằng núm điều khiển hệ số khuếch
đại.

PHÒNG THÍ NGHIỆM NDT

CHƯƠNG 8

260


TRUNG TÂM HẠT NHÂN TP.HCM

(iii)

(iv)
(v)

TÀI LIỆU HUẤN LUYỆN UT CẤP II

Dịch chuyển đầu dò ngang qua vùng có khuyết tật theo một hướng cho đến khi
chiều cao xung phản hồi khuyết tật bị giảm xuống còn 1/10 so với chiều cao xung phản
hồi cực đại ban đầu (nghĩa là giảm 20dB).
Đánh dấu vị trí điểm ra của đầu dò trên bề mặt của vật thể kiểm tra ở tại vị trí này.
Lại tiếp tục di chuyển đầu dò theo hướng ngược lại với hướng ban đầu, đi qua vị
trí có xung phản hồi khuyết tật cực đại và đến một vị trí nhận được xung phản hồi
khuyết tật có chiều cao còn 1/10 chiều cao xung phản hồi khuyết tật cực đại ban đầu.

(vi)

Đánh dấu vị trí điểm ra của đầu dò ở vị trí này.


(vii)

Đo khoảng cách giữa hai điểm đánh dấu.

(viii)

Xác định chiều rộng của chùm sóng âm ở độ sâu tương ứng độ sâu khuyết tật “d”,
từ biểu đồ biên dạng của chùm hoặc nhờ công thức sau :
φ = D + 2 (d – X0)tangθ
Trong đó : φ là chiều rộng chùm sóng siêu âm.
D là đường kính đầu dò (Phần biến tử).
d là độ sâu khuyết tật.
X0 là chiều dài trường gần.

(ix)

(8.1)

Lấy (vii) trừ (viii) sẽ thu được kết quả là kích thước của khuyết tật theo phương
song song với phương dịch chuyển của chùm tia siêu âm.

Phương pháp giảm 20dB cho kết quả tương đối chính xác hơn phương pháp giảm 6dB vì khả
năng kiểm soát chùm sóng âm của người sử dụng lớn hơn. Nhưng dù gì đi nữa cả hai phương
pháp này (giảm 20dB và 6dB) đều có những khó khăn về cơ bản phải lưu ý. Vấn đề chính là
sự suy giảm biên độ của các xung phản hồi khuyết tật lại có thể xảy ra do các nguyên nhân
khác, chứ thực sự không phải do nó đi qua đoạn đầu mút của khuyết tật. Sau đây liệt kê một
số nguyên nhân:
(a)


Tiết diện khuyết tật đột nhiên bị nhỏ đi, gây nên sự suy giảm diện tích mặt cắt
ngang trong phạm vi chùm tia. Nếu điều này làm cho tín hiệu bị suy giảm xuống 20dB
hoặc 6dB thì người kiểm tra tưởng là khuyết tật đã kết thúc tại đây, nhưng thực chất nó
vẫn còn kéo dài thêm nữa.

(b)

Hướng của khuyết tật có thể thay đổi do đó góc của đầu dò cũng phải dài hơn
để có được đáp ứng cực đại từ khuyết tật; có thể phải sử dụng một đầu dò khác.

(c)

Phương của khuyết tật thay đổi.

(d)

Đôi khi đầu dò bị xoay không theo ý muốn.

(e)

Thay đổi độ thô nhám của bề mặt.

8.4.2.3 Thước tọa độ khuyết tật:
Trường đào tạo kiểm tra không phá hủy (SANDT) Cambridge (Anh) U.K, đã sáng tạo ra một
loại thước tọa độ để xác định vị trí và kích thước khuyết tật trong mối hàn, khi sử dụng
phương pháp giảm 6dB hoặc 20dB.
Thước này gồm có biểu đồ chùm tia siêu âm và một thước kéo ngang trong suốt. Hai phần
của thước này được biểu diễn trên hình 8.6a và 8.6b.

PHÒNG THÍ NGHIỆM NDT


CHƯƠNG 8

261


TRUNG TÂM HẠT NHÂN TP.HCM

TÀI LIỆU HUẤN LUYỆN UT CẤP II

Hình 8.6a – Biểu đồ chùm tia siêu âm của thước tọa độ khuyết tật.
Thước kéo ngang trong suốt

Hình chiếu
cạnh

Hình 8.6b – Thước kéo ngang trong suốt của thước tọa độ khuyết tật
Vẽ độ rộng của chùm sóng âm (mặt cắt đứng) trên thước tọa độ khuyết tật:
Quy trình để vẽ độ rộng của chùm sóng âm (mặt cắt đứng), trên thước toạ độ khuyết tật khi
sử dụng bộ mẫu chuẩn I.O.W như sau :
(i)

Chuẩn thời gian quét cơ bản (Time Base).

(ii)

Xác định góc và điểm ra chùm sóng âm của đầu dò góc đang sử dụng.

(iii)


Đánh dấu điểm ra của chùm sóng âm lên đầu dò.

(iv)

Vẽ góc phát của đầu dò lên biểu đồ của chùm sóng âm như hình 8.7.

PHÒNG THÍ NGHIỆM NDT

CHƯƠNG 8

262


TRUNG TÂM HẠT NHÂN TP.HCM

(v)

TÀI LIỆU HUẤN LUYỆN UT CẤP II

Vẽ các đường song song nằm ngang đi qua trục trung tâm của chùm sóng âm ở
các độ sâu :13, 19, 25, 32, 43, 50, 56 và 62mm (Hình 8.7).

Hình 8.7 – Phương pháp vẽ bề rộng chùm tia sử dụng thước tọa độ khuyết tật.
(vi)

Dùng bộ mẫu chuẩn I.O.W để xác định các khoảng cách ab và ac (như trong mục vii)
và khoảng cách truyền sóng âm tương ứng đến từng lỗ.

(vii)


Vẽ các điểm b và c trên sơ đồ thước đo ứng với điểm a (điểm giao giữa mặt cắt ngang
của chùm tia với đường nằm ngang được vẽ trên sơ đồ đối với từng lỗ), trên sơ đồ
chùm tia và vẽ đường thẳng đi qua các điểm này như diễn tả trong hình 8.8.

(viii) Dùng phương pháp nói trên để vẽ biên dạng chùm tia sóng âm của các đầu dò góc 45 0
và 700 trên cùng một phía của biểu đồ và cho đầu dò góc 600 ở phía bên kia.
7

6

5

4

3

2

1

1

0

2

3

4


5

6

7

1
b

a c

2
3
4
5
6
7
8

Hình 8.8 – Hình vẽ biên dạng chùm tia điển hình trên biểu đồ thước toạ độ khuyết tật.
PHÒNG THÍ NGHIỆM NDT

CHƯƠNG 8

263


TRUNG TÂM HẠT NHÂN TP.HCM

TÀI LIỆU HUẤN LUYỆN UT CẤP II


Dùng thước tọa độ khuyết tật để xác định vị trí khuyết tật trong mối hàn :
Để xác định vị trí khuyết tật trong mối hàn bằng thước toạ độ khuyết tật ta tiến hành như
sau :
(i)
Vẽ biên dạng chùm sóng siêu âm cho đầu dò đang sử dụng.
(ii)

Vẽ sơ đồ mặt cắt mối hàn và hình chiếu của nó trên thước kéo ngang như hình 8.9.
Hình 8.9 diễn tả một mối hàn vát mép chữ V, một phía bên thép tấm dày 20mm, chiếu
mặt cắt của mối hàn được vẽ trên thước kéo ngang.

Hình 8.9 – Sơ đồ mặt cắt mối hàn và hình chiếu của nó.
(iii)

Hãy tìm vị trí một khuyết tật trong mối hàn vát mép chữ V dày 20 mm bằng đầu
dò góc ở 600. Vị trí đầu dò thu được xung cực đại khuyết tật là điểm ra của đầu dò cách
tâm đường hàn 17mm. Khoảng cách này gọi là “Khoảng cách đo được”, tương ứng dải
đo trên màn hình CRT. Hãy đặt dải bề dày quét cho khuyết tật này ở 20mm. Điều này
được minh họa trong hình 8.10.
sd

C/L

Khuyết tật

Hình 8.10 – Các vị trí liên quan với nhau của khuyết tật, đầu dò, biên dạng chùm tia và
những khoảng cách khác nhau trong việc kiểm tra mối hàn.
(iv)


Bây giờ đặt điểm 17mm ở vạch ngang trên thước biểu đồ chùm sóng siêu âm trùng
với đường tâm thước kéo ngang như hình 8.11.

(v)

Trên đường trung tâm của chùm sóng siêu âm đánh dấu một điểm cách góc phát
20mm, đây chính là vị trí (tọa độ) khuyết tật trong mối hàn, trong ví dụ này nó nằm ở
ngay trên đường trung tâm mối hàn và ở độ sâu khoảng 1/2 chiều dày so với bề mặt trên
(Hình 8.11).

PHÒNG THÍ NGHIỆM NDT

CHƯƠNG 8

264


TRUNG TÂM HẠT NHÂN TP.HCM

TÀI LIỆU HUẤN LUYỆN UT CẤP II

Hình 8.11 – Vị trí của khuyết tật biểu diễn bởi thước toạ độ khuyết tật.
(vi)

Để xác định vị trí khuyết tật, xung phản hồi khuyết tật sẽ đạt cực đại khi đầu dò nằm
trong khoảng giữa 1/2 bước quét cho đến hết một bước quét (skip distance), bằng cách
sử dụng phần hình chiếu của mối hàn vẽ trên thước kéo ngang. Hãy xem cách xác định
vị trí một khuyết tật trong mối hàn bởi đầu dò góc 600 như thế nào, trên hình vẽ 8.12.
Khoảng cách hình chiếu bước quét (Stand of Distance) đến tâm mối hàn là 60mm và
khoảng cách đường truyền chùm tia siêu âm là 61mm (tương đương 1/2 bước quét).


PHÒNG THÍ NGHIỆM NDT

CHƯƠNG 8

265


TRUNG TÂM HẠT NHÂN TP.HCM

TÀI LIỆU HUẤN LUYỆN UT CẤP II

Hình 8.12 – Vị trí của khuyết tật được mô tả trong phần 8.1.4.3.2.
(vii)

Đánh một vạch đứng ở vị trí 60mm trên biểu đồ chùm sóng âm và cho thước trượt
ngang trùng với đường trung tâm của thước (Hình 8.12).

(viii) Đánh dấu điểm 61mm trên chùm tia trung tâm như hình 8.12. Điểm này chỉ vị trí của
khuyết tật trong mối hàn.
Xác định kích thước khuyết tật bằng thước tọa độ khuyết tật:
Phương thức xác định kích thước và phương của khuyết tật trong mặt cắt đứng của một mối
hàn như sau :
(i)

Tìm xung báo phản hồi từ khuyết tật lớn nhất và đánh dấu vị trí của nó trên
thước kéo ngang, dùng quy trình được mô tả ở phần trên 8.4.2.3.

(ii)


Bây giờ di chuyển đầu dò tiến tới đường trung tâm của mối hàn cho đến khi
xung báo khuyết tật cực đại giảm đi 20dB.

(iii)

Ghi khoảng cách hình chiếu bước quét và dải bề dày quét ở vị trí này của đầu
dò.

(iv)

Vẽ các thông số này trên thước trượt như ở phần (i) nhưng lần này dùng tia
biên dạng “dưới” của chùm sóng âm thay vì tia trung tâm.
Y

X

Hình 8.13a – Sự dịch chuyển đầu dò để xác định kích thước khuyết tật trong mối hàn.

1 2

PHÒNG THÍ NGHIỆM NDT

3 4

5 6 7 8

9 10 11 12 13 14 15 16 17 18 19 20 21 22 23 24 25 26

CHƯƠNG 8


266


TRUNG TÂM HẠT NHÂN TP.HCM

TÀI LIỆU HUẤN LUYỆN UT CẤP II

Hình 8.13b – Xác định kích thước khuyết tật trong mối hàn trên thước tọa độ khuyết tật.
(v)

Bây giờ lại lùi đầu dò ra xa tâm đường hàn đi qua vị trí xung báo khuyết tật cực
đại cho đến khi chiều cao xung phản hồi sút giảm mất 20dB.

(vi)

Ghi khoảng cách hình chiếu bước quét và dải bề dày đo ở vị trí này của đầu dò.

(vii)

Lần này đánh dấu điểm mới trên thước, sử dụng tia biên dạng “trên” của chùm
sóng âm.

(viii)

Nếu tiến hành như trên cho việc đo kích thước khuyết tật được mô tả trên hình
8.13a ta sẽ nhận được ba điểm trên thước kéo ngang chỉ rõ kích thước và phương
khuyết tật như được minh họa trong hình 8.13b.

8.1.2.4. Kỹ thuật khuếch đại cực đại (Max):
Phương pháp này xây dựng trên yếu tố là trong thực tế phần lớn các khuyết tật không tồn tại

dưới dạng một bề mặt phản hồi sóng âm trơn láng, đơn điệu, mà thường có dạng một bề mặt
gấp khúc trong vật liệu và có nhiều bề mặt phản xạ sóng âm thuận lợi hay không thuận lợi
đối với chùm sóng âm đến khuyết tật.

Hình 8.14
Hình vẽ 8.14 diễn tả điều nêu trên, hình này mô phỏng một vết nứt trong một mối hàn.
Các bề mặt phản xạ sóng âm nhỏ sẽ hiện diện ở các khoảng truyền nhất định khác nhau chút
ít và dù cho nó có thể rất gần nhau đến mức không phân biệt ra thành các xung báo tách biệt
trên màn hình, nhưng dù sao đi nữa cũng có thể xem xung báo bao hàm như là một tập hợp
các xung nhỏ khác nhau riêng biệt.

(a)

(c)

(b)
Hình 8.15

PHÒNG THÍ NGHIỆM NDT

CHƯƠNG 8

267


TRUNG TÂM HẠT NHÂN TP.HCM

TÀI LIỆU HUẤN LUYỆN UT CẤP II

Trong thực tế xung bao hàm này có dạng như hình 8.15a, b, c. Tùy thuộc vào độ phân giải

của thiết bị và sự khác biệt về khoảng cách truyền đến bề mặt phản xạ sóng âm.
Khi chùm sóng âm được quét qua bề mặt của khuyết tật, tia trung tâm sẽ lần lượt đi qua từng
bề mặt phản xạ nhỏ. Khi đó, bề mặt phản xạ nhỏ có tia trung tâm đi qua sẽ cho phản xạ tối đa
rồi sau đó giảm xuống, dù nhìn chung xung phản hồi khuyết tật không biến đổi bao nhiêu về
chiều cao. Khoảng cách trên bề mặt và quãng đường truyền chùm tia siêu âm sẽ phải được
ghi nhận cho từng mỗi bề mặt phản xạ nhỏ để xác định vị trí của bề mặt này trên thước tọa
độ khuyết tật (F.L.S). Các kết quả thu nhận được cho ta một loạt các điểm thể hiện được sự
phân bố của khuyết tật. Tăng hệ số khuếch đại lên đủ để khảo sát hết từng bề mặt phản xạ
của khuyết tật.
8.4.2.4. Phương pháp dùng biểu đồ DGS (Distance – Gain – Size):
Phương pháp giản đồ DGS được đưa ra ứng dụng vào thực tế vì thế được gọi là biểu đồ
DGS, phương pháp này được Krautkramer đưa ra vào năm 1958 bằng việc so sánh các xung
phản hồi từ các mặt phản xạ nhỏ, (có tên gọi là các khoảng cách khác nhau tính từ đầu dò
được đặt tại các vị trí lỗ đáy bằng có đường kính khác nhau), với xung phản hồi của các mặt
phản xạ lớn, (hoặc mặt phản xạ đáy), cũng tại các khoảng cách khác nhau tính từ đầu dò. Sự
khác nhau giữa các biên độ xung phản hồi của những lỗ đáy bằng và biên dộ của xung phản
hồi của mặt phản xạ đáy được xác định bằng đơn vị decibel (dB). Biểu đồ này liên quan đến
khoảng cách D tính từ đầu dò (nghĩa là chiều dài của chùm tia) tính bằng đơn vị trường gần
rồi được bù vào kích thước và tần số khác nhau của đầu dò, liên quan đến hệ số khuếch đại
G có đơn vị là dB cho lỗ đáy bằng (FBH) được so sánh với các mặt phản xạ đáy riêng biệt,
sau cùng là kích thước S của lỗ đáy bằng tỷ lệ với đường kính tinh thể của đầu dò (Xem chi
tiết trong phần V.8).
Để đánh giá các khuyết tật bằng cách sử dụng biểu đồ DGS là phải nên nhớ rằng những
khuyết tật tự nhiên như rỗ khí, tạp chất, vết nứt.v.v…không bao giờ có các kích thước hình
học, hình dạng hoặc sự định hướng giống như lỗ đáy bằng. Do vậy biên độ xung phản hồi
của một khuyết tật không những bị ảnh hưởng bởi kích thước của nó bị mà còn bị ảnh hưởng
do hình dạng và góc nghiêng của chùm tia siêu âm, độ thô nhám của bề mặt hoặc những
thông số khác. Điều này làm nảy sinh khái niệm “ kích thước bề mặt phản xạ tương
đương”- (ERS). Đây là mặt phản xạ dạng hình đĩa giống như lỗ đáy bằng mà nếu nó nằm
vuông góc với trục của chùm tia siêu âm thì sẽ cho chiều cao xung phản hồi giống nhau trên

màn hình CRT, tương tự như các khuyết tật tự nhiên chưa biết. Sự tương quan này là được
chấp nhận, miễn là những khuyết tật tự nhiên phải có các đặc tính phản xạ giống với mặt
phản xạ dạng hình đĩa. Điều này thì đúng với tất cả những khuyết tật tự nhiên có bề mặt phản
xạ nhỏ không vượt quá giới hạn của chùm sóng âm theo bất kỳ phương nào. Việc đánh giá
kích thước khuyết tật sử dụng biểu đồ DGS được quy về kích thước bề mặt phản xạ tương
đương- (ERS), cho nên phải chú ý vì nó không cho kích thước thật của khuyết tật.
Quy trình để sử dụng biểu đồ DGS để đánh giá kích thước khuyết tật như sau :
(i)

Xác định biên độ xung báo khuyết tật vượt quá mức báo cáo - tính bằng dB
(tương ứng vượt quá 2/5 hoặc 80% chiều cao toàn màn hình). Gọi đây là giá trị A (dB).

(ii)

Xác định độ sâu của khuyết tật trên biểu đồ DGS, tính bằng đơn vị chiều dài
trường gần đối với đầu dò thẳng và bằng mm đối với đầu dò góc. Gọi giá trị tọa độ này
là X.

PHÒNG THÍ NGHIỆM NDT

CHƯƠNG 8

268


TRUNG TÂM HẠT NHÂN TP.HCM

(iii)

TÀI LIỆU HUẤN LUYỆN UT CẤP II


Tại chiều sâu X hãy xác định độ chênh lệch giữa mức ghi nhận và với đường
cong suy giảm đã có sẵn trên biểu đồ DGS. Gọi giá trị này là B (dB).

(iv)

Xác định giá trị (A – B) tính bằng dB.

(v)

Xác định giao điểm của đường kẻ vuông góc với trục D ở giá trị X và đường kẻ
vuông góc với trục G ở giá trị (A – B) dB.

(vi)

Xác định giá trị S của đường cong trên giản đồ DGS nằm gần với giao điểm đã
được xác định ở mục (v) nhất.

(vii)

Xác định đường kính của bề mặt phản xạ dạng hình đĩa tương đương (ERS), tính
bằng mm, như sau:
(a)

Đối với đầu dò thẳng nhân giá trị S thu được ở mục (vi) với đường kính biến
tử đầu dò.

(b)

Đối với đầu dò góc giá trị S ghi trên giản đồ DGS chính là giá trị đường kính

của bề mặt phản xạ dạng hình đĩa tương đương (ERS) tính bằng mm.

Ví dụ 1 : (Đầu dò thẳng)
Một vật rèn bằng thép có bề dày 200mm được kiểm tra bằng đầu dò thẳng có tần số 2MHz và
đường kính tinh thể là 10mm. Giả thiết là phát hiện được một lỗ đáy bằng (FBH) tại độ sâu
100mm và xung phản hồi của nó được hiển thị trên màn hình CRT. Hãy xác định đường kính
lỗ đáy bằng (FBH) bằng cách đánh giá biên độ xung
(i)
(ii)
(iii)

Tính chiều dài trường gần của đầu dò trong thép :
Nthép

=

D2 D2f
=
= 8,5mm
4λ
4ν

Dải bề dày kiểm tra trong thép:

(iv)

s = 200mm.

(v)


D đối với đáy :

(vi)

Dải bề dày kiểm tra đối với FBH :

(vii)

D đối với FBH

=

200
N = 23,5 N
8,5

100mm.
=

100
N = 11,7 N
8,5

(viii)

Trong hình 5.30 (chương 5), kẻ một đường thẳng vuông góc với trục D tại điểm
23,5N và kéo dài nó cho đến khi gặp đường mặt đáy (còn gọi là đường so sánh).

(ix)


Từ giao điểm được xác định trong (vi), mà còn gọi là điểm so sánh, kẻ một đường
thẳng vuông góc với trục G và cắt G tại điểm có giá trị 23,5 (dB).

(x)
(xi)

Tương tự kẻ một đường vuông góc với trục D tại giá trị 11,7N.
Điều chỉnh chiều cao biên độ xung phản hồi của mặt phản xạ so sánh (xung phản
hồi đáy) đạt đến 80% chiều cao của toàn màn hình (FSH). Gọi chiều cao xung phản hồi
này là H, và ghi lại giá trị khuếch đại (dB) tương ứng. Hãy thực hiện điều này bằng một
ví dụ giá trị khuếch đại là 14dB và được ký hiệu bởi G1.

PHÒNG THÍ NGHIỆM NDT

CHƯƠNG 8

269


TRUNG TÂM HẠT NHÂN TP.HCM

TÀI LIỆU HUẤN LUYỆN UT CẤP II

(xii)

Không thay đổi hệ số khuếch đại hãy quan sát biên độ xung phản hồi từ lỗ đáy
bằng. Xung phản hồi từ lỗ đáy bằng thường nhỏ hơn rất nhiều so với xung phản hồi từ
mặt phản xạ so sánh do đó khi trừ hai biên độ này với nhau thì sẽ cho kết quả âm.

(xiii)


Tăng hệ số khuếch đại cho đến khi chiều cao biên độ xung phản hồi từ lỗ đáy
bằng đạt đến bằng chiều cao biên độ xung phản hồi từ bề mặt phản xạ so sánh, nghĩa là
80% chiều cao toàn màn hình. Đọc hệ số khuếch đại đặt cho xung phản hồi này là
34dB. Gọi nó là G2.

(xiv)

Vì thế xung phản hồi từ lỗ đáy bằng cần phải được tăng thêm một lượng khoảng
20dB (G2 –G1) , để đạt đến chiều cao như là xung phản hồi đáy trên toàn màn hình.

(xv)

Đặt điểm 20dB bên dưới giá trị dB vừa xác định được trong (vii) tương ứng với
điểm so sánh (23,5dB). Đây là điểm 43,5dB trên trục G.

(xvi)

Kẻ một đường thẳng tại giá trị 43,5dB và vuông góc với trục G. Kéo dài đường
thẳng này để gặp đường thẳng đã được kẻ trong (viii) tại một giao điểm.

(xvii)

Ghi lại giá trị S gần nhất tương ứng với giao điểm này. Điểm này có giá trị là 0,3.

(xviii)
Nhân giá trị S trong (xv) với đường kính tinh thể đầu dò sẽ cho ta được đường
kính của lỗ đáy bằng. Đường kính này là 3mm.
(viii)


Vậy lỗ đáy bằng được xác định ở độ sâu 100mm có đường kính 3mm.

Ví dụ 2 : (Đầu dò thẳng)
Tần số đầu dò
Đường kính đầu dò
Độ nhạy đánh giá
Chiều dài trường gần
(i)
(ii)
(iii)
(iv)
(v)

(vi)

= 5MHz
= 10mm.
= Chuẩn như trong phần V.7
= 21mm.

Chiều cao xung phản hồi vượt quá mức báo cáo 2/5 hoặc 80% chiều cao toàn
màn hình = 9dB.
Độ sâu khuyết tật = 42mm ⇒ chiều dài trường gần.
Chênh lệch giữa mức ghi nhận và độ suy giảm truyền âm trên đường cong của
biểu đồ DGS tại 4 đơn vị trường gần trong hình 5.30 là 1dB.
Lấy giá trị trong (i) – giá trị trong (iii) = 9 – 1 = 8dB.
Giao điểm của đường thẳng vuông góc tại giá trị 2 chiều dài trường gần và
đường thẳng tại giá trị 8dB nằm sát với đường cong có giá trị S = 0,4 trên biểu đồ DGS
trong hình 5.30
Đường kính dạng đĩa tương tương (ERS) : 0,4 × 10 = 4mm.


Ví dụ 3 : (Đầu dò góc)
Độ nhạy đánh giá = chuẩn như ở phần V.7.
(i)

Biên độ xung phản hồi khuyết tật vượt quá mức báo cáo = 40dB.

(ii)

Độ sâu khuyết tật = 50mm.

(iii)

Độ chênh lệch giữa mức ghi nhận và độ suy giảm ở vị trí 50mm = 12dB trên
đường cong của biểu đồ DGS của hình 5.31 (chương 5).

PHÒNG THÍ NGHIỆM NDT

CHƯƠNG 8

270


TRUNG TÂM HẠT NHÂN TP.HCM

(iv)
(v)
(vi)

TÀI LIỆU HUẤN LUYỆN UT CẤP II


Lấy 40 – 12 = 28dB.
Giao điểm giữa đường vuông góc kẻ từ trục D ở vị trí 50mm và đường vuông góc
kẻ từ trục G ở vị trí trên mức ghi nhận 28dB nằm gần đường cong S có giá trị S = 5mm.
Do đó đường kính dạng đĩa tương đương (ERS) là 5mm.

8.5. XÁC ĐỊNH BẢN CHẤT CỦA KHUYẾT TẬT :

Bản chất của khuyết tật được xác định thông qua một loạt các dịch chuyển để điều khiển của
đầu dò. Các kiểu dịch chuyển đầu dò được diễn tả trên hình 8.16.

(a)

(b)

(c)

(d)

Hình 8.16. Các loại dịch chuyển của đầu dò.(a) Xoay quanh; (b) Xoay theo quỹ đạo (hành
tinh); (c) Dịch chuyển dọc; (d) Dịch chuyển ngang.
Thông thường, đối với các mối hàn, một khuyết tật có thể được phân vào một trong các loại
sau :
8.5.1. Rỗ bọt đơn (Isolated Pore):
Một rỗ bọt, thường có dạng cầu, thì phản xạ âm rất kém. Trên lý thuyết, chỉ có các tia va
chạm vuông góc bề mặt lỗ bọt mới phản xạ về đầu dò. Tất cả các tia khác đến với bề mặt
dưới một góc không vuông góc đều bị tán xạ đi nơi khác. Chiều cao và hình dạng xung báo
khuyết tật gần như không thay đổi khi đầu dò chuyển động hành tinh quanh tâm điểm vị trí
khuyết tật và vẫn giữ nguyên khoảng cách, kể cả khi dò từ phía bên kia mối hàn (Hình 8.17).


Hình 8.17 – Hình dạng của xung phản hồi từ những rỗ bọt đơn.
8.5.2. Rỗ bọt khí :
Loại khuyết tật này cho xung báo có dạng một nhóm xung nhỏ, số xung nhỏ phụ thuộc vào
số lượng và sự phân bố các rỗ bọt khí (hình 8.18).
PHÒNG THÍ NGHIỆM NDT

CHƯƠNG 8

271


TRUNG TÂM HẠT NHÂN TP.HCM

TÀI LIỆU HUẤN LUYỆN UT CẤP II

Hình 8.18 – Hình dạng của xung phản hồi từ các rỗ bọt khí.
Trong phần lớn trường hợp, các xung báo từ rỗ bọt khí có thể phân biệt được với tạp chất xỉ,
bởi vì rỗ bọt khí cho xung có dạng nhiều xung báo nhỏ còn tạp chất xỉ thì cho xung báo dạng
một xung có nhiều đỉnh nhọn cao.
Trong quá trình dò quét bằng cách xoay quanh, xoay hành tinh và dịch ngang cho xung phản
hồi tăng lên và giảm xuống rất nhanh và nhuyễn khi quét chùm tia qua các bất liên tục.
8.5.3. Ngậm xỉ (Slag Inclusion):
Xung báo của dạng khuyết tật loại này có thể cao như xung báo một khuyết tật nứt hay
khuyết tật không ngấu, nhưng hình dạng thì hoàn toàn khác. Do biên dạng gãy, gồ ghề của
khuyết tật nên nó sẽ tạo ra nhiều mặt phản xạ sóng âm có khoảng cách truyền khác nhau nên
xung báo sẽ có hình dạng như một cây thông mọc lên trên đường quét ngang của màn hình
CRT (Hình 8.19).

Hình 8.19 – Hình dạng của xung phản hồi từ một tạp chất xỉ.
Khi đầu dò chuyển động hành tinh xung quanh điểm khuyết tật ở cả hai phía của mối hàn,

chiều cao xung báo khuyết tật sẽ không thay đổi đáng kể; chỉ có các nhánh cây thông sẽ cho
chiều cao xung đều đều không thay đổi trên một đọan chiều dài quét, trong khi nếu di chuyển
ngang để đo độ sâu thì chỉ nhận được một xung nhọn trong một khoảng cách cố định rất
ngắn. Cũng giống như dạng lỗ bọt khí, dạng khuyết tật ngậm xỉ không có vị trí nhất định
trong mối hàn.
8.5.4. Các khuyết tật dạng mặt phẳng (Planar defects):
Các ví dụ về dạng khuyết tật này là các vết nứt (crack) và khuyết tật hàn không thấu
(incomplete penetration). Các khuyết tật dạng này phản xạ gần như hoàn toàn năng lượng
sóng âm truyền đến theo một hướng nhất1 định. Chiều cao
2 của xung phản hồi khuyết tật bị sút
giảm đột ngột khi đầu dò xoay theo quỹ đạo (hành tinh) hay khi xoay đầu dò quanh trục của
nó khi đang ở vị trí nhận được xung phản hồi khuyết tật lớn nhất (Hình 8.20). Do đó ta ta
thấy rất dễ phân biệt khuyết tật dạng mặt với dạng ngậm xỉ.

PHÒNG THÍ NGHIỆM NDT

CHƯƠNG 8

1

2

272


TRUNG TÂM HẠT NHÂN TP.HCM

TÀI LIỆU HUẤN LUYỆN UT CẤP II

Hình 8.18 – Hình dạng của xung phản hồi từ các khuyết tật dạng mặt phẳng w.r.t đến đầu dò

ở các vị trí 1 và 2.
Đối với các vết nứt, khuyết tật không thấu, không ngấu đều là những khuyết tật dạng mặt
phẳng, chúng không thể phân biệt được lẫn nhau nếu chỉ đơn giản căn cứ vào chiều cao và
hình dạng xung khi dò từ một bên của mối hàn. Để xác định chắc chắn bản chất của khuyết
tật, phải xác định được vị trí của khuyết tật trong mối hàn. Vì khuyết tật không ngấu và
không thấu thường có vị trí thích ứng trong mối hàn, ví dụ như nếu một khuyết tật dạng mặt
phẳng nằm ở tâm mối hàn một phía, vát mép chữ V, thì khó mà dám xác định đây là một
khuyết tật không ngấu mặt bên. Nhưng nếu một khuyết tật dạng mặt phẳng nằm ở vị trí cạnh
mối hàn có thể có nhiều khả năng đó là khuyết tật không ngấu mặt bên. Có thể kiểm chứng
lại cho chắc chắn bằng cách dò lại từ phía bên kia của mối hàn.
Nếu khuyết tật nằm theo hướng thẳng đứng, chiều cao xung báo khuyết tật gần như bằng
nhau khi dò từ cả hai bên mối hàn. Nếu khuyết tật nằm nghiêng, chiều cao xung phản hồi
khuyết tật sẽ khác nhau rõ rệt.
8.5.5. Các vấn đề liên quan khác :
Mặc dù rất dễ phát hiện một khuyết tật dạng “đường”, nhưng vẫn rất khó phân biệt nó liên
tục hay là đứt đoạn. Nếu là từng đoạn, lại cũng khó mà định được khoảng cách ở các chỗ
gián đoạn giữa các phần khác nhau của khuyết tật, chủ yếu là do sự mở rộng của chùm tia và
kết quả là nó quét trùm qua những khuyết tật liên tiếp gần nhau. Chiều cao xung thường dao
động, phát triển tăng hoặc giảm phụ thuộc vào khoảng cách giữa các đoạn khuyết tật. Một
khuyết tật kéo dài và liên tục nhưng gấp khúc cũng gây ra ảnh hưởng tương tự như vậy do
hướng phản xạ thay đổi ngẫu nhiên. Nhưng trường hợp này có thể phát hiện ra bằng cách dao
động nhẹ qua lại và xoay nhẹ đầu dò ở các vị trí xung bị giảm. Như thế sẽ có nhiều điểm tìm
được xung báo khuyết tật cao và rõ khi đầu dò xoay đúng hướng, nhưng đối với các khuyết
tật đứt đoạn thì chỉ nhận được sự sút giảm nhanh chiều cao xung báo khuyết tật.
Cùng với kinh nghiệm thực hành, việc nghiên cứu các xung sẽ tạo ra một phương thức tinh tế
cho phép người sử dụng máy siêu âm phân loại từng nhóm thuộc tính khác nhau của khuyết
tật mà không phải tốn nhiều công sức, nếu cần thiết, các phân loại như vậy có thể kiểm
chứng bằng cách dùng thước tọa độ khuyết tật (Flaw Location Slide – FLS).
8.6. ĐÁNH GIÁ CÁC BẤT LIÊN TỤC THEO NHỮNG YÊU CẦU KỸ THUẬT, TIÊU
CHUẨN VÀ QUY PHẠM :


Sau khi những công việc kiểm tra theo quy định đã được hoàn thành và đã biết được đặc
điểm của khuyết tật theo bản chất, kích thước và vị trí của chúng, vấn đề tiếp theo là xử lý
những khuyết tật này như thế nào. Phải suy xét kỹ lưỡng khi thực hiện vấn đề này. Độ nhạy
PHÒNG THÍ NGHIỆM NDT

CHƯƠNG 8

273


TRUNG TÂM HẠT NHÂN TP.HCM

TÀI LIỆU HUẤN LUYỆN UT CẤP II

phát hiện khuyết tật luôn được tăng lên cùng với sự cải tiến trang thiết bị. Ví dụ như đối với
kiểm tra bằng chụp ảnh bức xạ, có một thời điểm độ nhạy phát hiện khuyết tật là 5% nghĩa là
các khuyết tật trong giới hạn 5% bề dày mẫu kiểm tra có thể phát hiện được. Tại thời điểm
đó thì những khuyết tật nằm trong mức độ phát hiện này và phải loại bỏ. Hiện nay độ nhạy
của phương pháp chụp ảnh bức xạ nằm trong dải từ 0,5 tới 1%. Tương tự trong kiểm tra bằng
siêu âm có một thời gian người ta vui mừng vì đã phát hiện các vùng nứt có kích thước bằng
một bàn tay và được đánh giá là rất tin cậy.
Vấn đề này đã được phát triển cải tiến qua nhiều năm và vì thế người ta đã phát hiện một
cách tin cậy những vùng bị nứt có kích thước bằng khoảng móng tay và bây giờ với thiết bị
hiện đại chúng ta có thể phát hiện được những vùng có bất liên tục 1mm đến 1/8mm. Một ví
dụ khác là đánh giá những vết lõm, những chỗ móp và những vết rỗ do rỉ mòn. Thiết bị đo
bề dày thành đã được cải tiến với độ nhạy tới 0,1mm và cao hơn nữa.
Ngày nay bất cứ khuyết tật nhỏ như vậy và sự dao động về bề dày mà vẫn còn nằm trong
phạm vi phát hiện của các phương pháp NDT khác nhau nên phải loại bỏ, ngoại trừ nó đã
được xác lập đầy đủ bằng tính toán và các thử nghiệm rộng rãi , để mà mức khuyết tật này

thực sự nguy hiểm và do vậy các chi tiết có các khuyết tật này không được phép đưa vào sử
dụng cho đến sau khi chúng được sửa chữa thích hợp. Phải thừa nhận rằng bất kể phương
pháp kiểm tra không phá hủy nào được sử dụng, phải suy xét một phần trăm nhỏ của khuyết
tật sẽ không nên báo cáo. Hiển nhiên, toàn bộ cấu trúc công nghiệp phụ thuộc vào một số
phạm vi trong xác suất thống kê về hư hỏng, và toàn bộ công việc bảo đảm chất lượng chấp
nhận thấp. Ngoài ra, trong tất cả các trường hợp đặc biệt, tiến hành kiểm tra không phá hủy
100% với tất cả những kỹ thuật có thể sử dụng được sẽ không cần thiết, và lẽ dĩ nhiên ngay
cả khi nếu nó được tiến hành với tất cả các phương pháp kiểm tra NDT thì cũng không thể
bảo đảm 100% không có bất liên tục còn tồn tại. Do đó, trong thực tế, việc bảo đảm chất
lượng với mức độ đầy đủ chỉ có được qua sự phát triển của một hệ thống tích hợp của công
việc kiểm tra quá trình sản xuất và NDT.
Những vấn đề này và nhiều mối lưu tâm khác được đưa vào để chuẩn bị những tiêu chuẩn
cho phép/loại bỏ cho những sản phẩm khác nhau thường được kiểm tra bằng phương pháp
kiểm tra không phá hủy. Những khuyết tật nguy hiểm nhất gây ra sự suy giảm về độ bền là
những khuyết tật dạng phẳng như là vết nứt và các khuyết tật hàn không ngấu và những
khuyết tật dạng khối như các rỗ khí thì ít nguy hiểm hơn. Rõ ràng rằng kích thước theo
hướng bề dày của một khuyết tật thì quan trọng hơn chiều dài của nó, và vì thế những khuyết
tật nứt hở ra trên bề mặt thì nguy hiểm hơn những khuyết tật nằm bên trong (dưới bề mặt)
của chi tiết. Có nhiều bằng chứng cho thấy sự phân bố của những rỗ khí có rất ít ảnh hưởng
đến độ bền của mối hàn. Như kết quả cho sự tìm tòi này, mức cho phép đối với các khuyết
tật mối hàn vẫn còn là một đề tài luôn luôn không đổi, là chủ đề cần phải còn thảo luận và
tranh cải nhiều.
8.6.1. Tiêu chuẩn cho phép của ASME Section XI cho các bình áp lực dùng trong lò
phản ứng hạt nhân :
Tiêu chuẩn cho phép đối với một khuyết tật phát hiện được xây dựng trong quá trình kiểm tra
khi đang hoạt động (ISI) hoặc quá trình kiểm tra trước khi hoạt động (PSI), được chỉ rõ bởi
quy phạm ASME Section XI liên quan đến sự toàn vẹn cấu trúc của nhà máy điện hạt nhân.
8.6.1.1. Mô tả đặc điểm của khuyết tật:

PHÒNG THÍ NGHIỆM NDT


CHƯƠNG 8

274


TRUNG TÂM HẠT NHÂN TP.HCM

(i)

TÀI LIỆU HUẤN LUYỆN UT CẤP II

Khuyết tật được phát hiện trong các quá trình kiểm tra khi đang hoạt động (ISI)
hoặc trước khi hoạt động (PSI) được xác định rõ giới hạn bằng cách vẽ vùng giới hạn
hình chữ nhật hoặc hình vuông chứa toàn bộ diện tích của khuyết tật.
(a)

Chiều dài “l” của hình chữ nhật hoặc một cạnh của hình vuông sẽ được vẽ
song song với bề mặt chịu áp lực trong của chi tiết.

(b)

Chiều sâu “a” của hình chữ nhật hoặc một cạnh của hình vuông phải được vẽ
vuông góc với bề mặt chịu áp lực trong và được ký hiệu là “a” cho khuyết tật bề
mặt và “2a” cho khuyết tật nằm gần bề mặt.

(c)

Tỷ số giữa các cạnh “a/l” phải không quá 0,5.


(ii)

Những khuyết tật phải được xác định đặc điểm theo IWA – 3310 đến IWA – 3390.

(iii)

Kích thước bề dày của lớp phủ có thể được lấy từ những bản vẽ của nhà sản xuất.

8.6.1.2. Những khuyết tật bề mặt dạng mặt phẵng (Surface planar flaws):
(i)

Một chỉ thị được coi như khuyết tật bề mặt dạng mặt phẳng nếu diện tích của
khuyết tật này được phát hiện ban đầu được định hướng theo một mặt phẳng đơn nào
đó không song song với bề mặt chi tiết và một phần nào đó của khuyết tật xuyên thấu
bề mặt của chi tiết.

(ii)

Một chỉ thị gần bề mặt được xem như khuyết tật bề mặt nếu một phần nào đó
của khuyết tật nhỏ hơn 0,4d từ những khuyết tật nằm gần bề mặt của chi tiết nhất như
được mô tả trong hình 8.21.

t
l
a
s
PHÒNG THÍ NGHIỆM NDT

CHƯƠNG 8
bề dày lớp phủ


275


TRUNG TÂM HẠT NHÂN TP.HCM

TÀI LIỆU HUẤN LUYỆN UT CẤP II

Hình 8.21 – Xác định kích thước trong trường hợp khuyết tật dạng mặt.
(iii)

Tiêu chuẩn cho khuyết tật bề mặt :
(a)
(b)

Đạt tới “2d” và “S”.
So sánh “S” và “0,4d”.
Nếu S < 0,4d, xem như khuyết tật này là khuyết tật bề mặt.

(c)

“a” = “2d” + “S” .

(d)

Tính “a/l” và “a/t”.

(e)

So sánh những giá trị này bằng cách sử dụng tiêu chuẩn cho phép.


8.6.1.3. Những khuyết tật gần bề mặt dạng mặt phẳng (Subsurface planar flaws):
(i)

(ii)

Một chỉ thị được xem như một khuyết tật gần bề mặt dạng phẳng nếu diện tích
của khuyết tật được phát hiện ban đầu được định hướng theo một mặt phẳng đơn nào
đó, không song song với bề mặt chi tiết hơn và nếu khoảng cách “S” từ khuyết tật đến
bề mặt gần nhất của chi tiết bằng hoặc lớn hơn 0,4d được mô tả trong hình 8.22.
Tiêu chuẩn cho một khuyết tật gần bề mặt :

(a)

Đạt tới “2d” và “S”.

(b)

So sánh “S” và “0,4d”.

(c)

Nếu S ≥ 0,4d, thì khuyết tật này được xem như một khuyết tật gần bề mặt.
“a” = “d” tức là “2a” = “2d”.

(d)

Tính toán “a/l” và “a/t”.

(e)


Tính y mà y = S/a.
Nếu y lớn hơn 1 thì sử dụng y = 1.

(f)

So sánh những giá trị này bằng cách sử dụng tiêu chuẩn cho phép.

t

l
2d
PHÒNG THÍ NGHIỆM NDT

CHƯƠNG 8
bề dày lớp phủ

s

a=d
276


TRUNG TÂM HẠT NHÂN TP.HCM

TÀI LIỆU HUẤN LUYỆN UT CẤP II

Hình 8.22 – Xác định kích thước trong trường hợp khuyết tật dạng phẳng ở gần bề mặt.
8.6.1.4. Những khuyết tật dạng tách lớp (Laminar flaws):
(i)


Những chỉ thị dạng phẳng được định hướng nằm trong khoảng 10 0 của một mặt
phẳng song song với bề mặt của chi tiết.

(ii)

Diện tích của một khuyết tật dạng tách lớp sẽ bằng khoảng 0,75 lần diện tích của
hình vuông hoặc hình chữ nhật mà chứa diện tích phát hiện được của những khuyết tật
này mà mỗi khuyết tật gối lên hoặc nằm trong 1 inch của khoảng cách “S”.

8.6.1.5. Tiêu chuẩn cho phép:
Tiêu chuẩn cho phép của những khuyết tật được xác định theo loại của những chi tiết và hình
dạng của khuyết tật. Bảng 8.2 mô tả một ví dụ về kiểm tra khuyết tật bằng siêu âm mà có thể
tìm thấy trong những mối hàn hình tròn và những mối hàn đứng trong một bình áp lực như là
máy phát năng lượng bằng hơi nước và các thiết bị áp lực.v.v…
Mỗi lần xác định được “a/l” và “a/t” thì tiêu chuẩn cho phép của khuyết tật có thể quyết định
được dể dàng.
y* = S/a, là một hệ số gần đúng từ khuyết tật đến bề mặt.
8.6.2. Tiêu chuẩn đánh giá mối hàn theo ASME Section VIII:
8.6.2.1. Tiêu chuẩn chấp nhận cho mối hàn:
Tất cả những bất liên tục mà tạo ra một xung có biên độ lớn hơn 20% của mức chuẩn so sánh
phải được khảo sát để người kiểm tra có thể xác định được hình dạng, đặc tính, và vị trí của
tất cả những bất liên tục đó và đánh giá chúng trong phạm vi những tiêu chuẩn cho phép chỉ
ra trong phần (i) và (ii) ở bên dưới đây :
(i)

Những bất liên tục được thể hiện như là những vết nứt, hàn không ngấu hoặc
những hàn không thấu đều không được cho phép bất chấp chiều dài của chúng.

(ii)


Tất cả những bất liên tục dạng đường khác là không được cho phép nếu biên độ
của chúng vượt quá mức chuẩn so sánh và chiều dài vượt quá kích thước được cho dưới
đây :
(a)

1/4 inch (6,25mm) đối với bề dày của T tới 3/4 in. (18,75mm).

(b)

1/3 T đối với bề dầy T từ 3/4 inch (18,75mm) đến 2

(c)

3/4 inch (18,75mm) đối với bề dầy T lớn hơn 2 in. (56,25mm).

1
in (56,25mm).
4

1
4

Trong đó : T là bề dày của mối hàn được kiểm tra. Nếu các mối hàn nối hai bộ phận có bề
dày khác nhau trong một mối hàn, T là phần mỏng hơn của hai bề dày này.
Bảng 8.2 : Tiêu chuẩn cho phép ASME Section XI cho các khuyết tật dạng mặt
Phương pháp kiểm tra khối, bề dày thành danh định,1 t, inch
PHÒNG THÍ NGHIỆM NDT

CHƯƠNG 8


277


TRUNG TÂM HẠT NHÂN TP.HCM

Tỷ số giữa các
cạnh1 a/l

0,00
0,05
0,10
0,15
0,20
0,25
0,30
0,35
0,40
0,45
0,50
Vùng trong các
góc.

2

TÀI LIỆU HUẤN LUYỆN UT CẤP II

4 đến 12

1

và nhỏ hơn
2

Khuyết tật bề
mặt2
a/t, %
3,1
3,3
3,6
4,1
4,7
5,5
6,4
7,4
8,3
8,5
8,7
2,5

Khuyết tật gần
bề mặt2 – 4
a/t, %
3,4Y
3,8Y
4,3Y
4,9Y
5,7Y
6,6Y
7,8Y
9,0Y

10,5Y
12,3Y
14,3Y
Không áp dụng

Khuyết tật bề
mặt2
a/t, %
1,9
2,0
2,2
2,5
2,8
3,3
3,8
4,4
5,0
5,1
5,2
2,5

Khuyết tật gần
bề mặt2 – 4
a/t, %
2,0
2,2
2,5
2,9
3,3
3,8

4,4
5,1
5,8
6,7
7,6
Không áp dụng

Lưu ý :
(1)

Kích thước của a và l được xác định trong IWA – 3300. Cho những tỷ
số khuyết tật trung gian giữa a/l và bề dày t, có thể dùng làm đường thẳng nội suy.
Xem IWA – 3200 (b).

(2)

Xem bảng IWB – 3512 – 2 cho chi tiết có bề dày t thích hợp giống
như một hàm theo vị trí của khuyết tật.

(3)

Độ sâu toàn phần của khuyết tật nằm gần bề mặt là 2a (hình. IWA –
3320 – 1).

(4)

Y = [(S/t)/(a/t)] = (S/a). Nếu S < 0,4d thì khuyết tật đó là loại khuyết
tật bề mặt. Nếu Y > 1,0 thì sử dụng Y = 1,0.

8.6.2.2. Báo cáo kết quả kiểm tra:

Người sản xuất sẽ chuẩn bị một biên bản báo cáo về quá trình kiểm tra siêu âm và sao chép
biên bản báo cáo này để giữ lại cho đến khi người kiểm tra ký nhận những số liệu báo cáo
của người sản xuất. Biên bản báo cáo phải bao gồm những thông tin được nêu ra trong
Section V. Thêm vào đó, kết quả ghi nhận của những vùng được sửa chữa sẽ được đánh dấu,
ghi chép lại và kiểm tra lại. Người sản xuất cũng sẽ duy trì kết quả ghi nhận của tất cả các bề
mặt phản xạ từ những vùng không sửa chữa mà có xung vượt quá 50%
mức chuẩn. Kết quả này phải xác định từng vị trí, mức đáp ứng xung, kích thước, độ sâu nằm
bên dưới bề mặt và sự phân loại.
8.6.3. Tiêu chuẩn đánh giá chất lượng mối hàn của Hội hàn Hoa Kỳ : AWS D1.1:
Bảng 8.3 và 8.4 trình bày tiêu chuẩn đánh giá chất lượng mối hàn cho những cấu kiện chịu
tải tĩnh và chịu tải động. Lưu ý là tiêu chuẩn này không áp dụng cho các thiết bị chịu áp lực.
Bảng 8.3 : AWS -2000. Tiêu chuẩn đánh giá (chấp nhận/loại bỏ) cho những cấu kiện
chịu tải trọng động :
Bề dày mối hàn* và góc của đầu dò
PHÒNG THÍ NGHIỆM NDT

CHƯƠNG 8

278


TRUNG TÂM HẠT NHÂN TP.HCM

5/16
đến

> 3/4
đến

3/4


1
1
2

Nhóm B

700
+10&
thấp
hơn
+11

700
+8 &
thấp
hơn
+9

Nhóm C

+12

+10

Nhóm D

+13 & +11&
cao hơn cao hơn


Nhóm A

>1

1
2

700
-4&
thấp
hơn
+5
+6
+7
+8
+9&

TÀI LIỆU HUẤN LUYỆN UT CẤP II

đến
600
+7&
thấp
hơn
+8
+9
+10
+11
+12&


2

1
2

450
+9&
thấp
hơn
+10
+11
+12
+13
+14&

cao hơn cao hơn cao hơn

> 2
700
+1&
thấp
hơn
+2
+3
+4
+5
+6&

1
2


đến
600
+4&
thấp
hơn
+5
+6
+7
+8
+9&

>4

4
450
+6&
thấp
hơn
+7
+8
+9
+10
+11&

cao hơn cao hơn cao hơn

700
2&
thấp

hơn
1
0
+1
+2
+3&

đến

8

600
+1&
thấp
hơn
+2
+3
+4
+5
+6&

450
+3&
thấp
hơn
+4
+5
+6
+7
+8&


cao hơn cao hơn caohơn

Lưu ý :
1.

Những khuyết tật thuộc nhóm A và C phải cách nhau ít nhất 2L, trong đó L
là chiều dài của khuyết tật dài hơn, ngoại trừ khi hai hoặc nhiều hơn những khuyết
tật như vậy không được cách nhau bởi giá trị tối thiểu 2L, nhưng chiều dài của các
khuyết tật được phối hợp lại với nhau và khoảng cách nhau của chúng thì bằng với
hay ngắn hơn chiều dài tối đa cho phép trong nhóm B hoặc C, thì khuyết tật phải
được xem như là một khuyết tật đơn cho phép.

2.

Những khuyết tật thuộc nhóm B và C không được bắt đầu tại khoảng cách
nhỏ hơn 2L từ đầu mút của mối hàn, L là chiều dài của khuyết tật.

3.

Những khuyết tật được phát hiện tại “mức quét” trong vùng mặt đáy của mối
hàn giáp mí hai phía thấu hoàn toàn phải được đánh giá bằng cách sử dụng chỉ thị
mức độ độ nhạy hơn 4dB so với độ nhạy được trình bày trong phần 6.19.6.5(của tài
liệu AWS D1.1, khi những mối hàn như vậy được thiết kế như loại mối hàn ứng suất
trên bản vẽ (trừ 4 dB từ giá trị chỉ thị “d”).

4.

Để những chỉ thị kiểm tra còn lưu lại trên màn hình CRT khi dịch chuyển
đầu dò, hãy xem phần 9.25.3.2.

*

Bề dày của mối hàn phải được xác định như là bề dày danh định của phần mỏng
hơn khi hai phần chi tiết được hàn nối với nhau có bề dầy khác nhau.
Nhóm A (Những khuyết tật lớn)
Bất kỳ các chỉ thị khuyết tật nào trong nhóm này sẽ được loại bỏ.
(Bất kể chiều dài của nó như thế nào)
Nhóm B (Những khuyết tật trung bình)
Bất kỳ các chỉ thị khuyết tật nào trong nhóm này có chiều dài lớn hơn 3/4 inch
(19mm) phải được loại bỏ.
Nhóm C (Những khuyết tật nhỏ)
Bất kỳ các chỉ thị khuyết tật nào trong loại này có chiều dài lớn hơn 2 inch (51mm);
nằm trong khoảng 1/4 hoặc 3/4 inch (19mm) chiều dài nằm trên đỉnh hoặc 1/4 bề
dày mối hàn dưới đáy, phải được loại bỏ.
Nhóm D (Những khuyết tật nhỏ không quan trọng)
Bất kỳ các chỉ thị khuyết tật nào trong loại này phải được cho phép bất kể chiều dài,
vị trí của nó như thế nào nằm trong mối hàn.
PHÒNG THÍ NGHIỆM NDT

CHƯƠNG 8

279